—— PROUCTS LIST
—— ARTICLE
-
晶棒參考面X射線定向儀時間:2017-09-15型號:ALL-CKMD400型廠商性質:生產廠家瀏覽量:18141
晶棒參考面(mian)X射(she)線定向(xiang)儀的(de)(de)結構與功(gong)能介(jie)紹:基(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)平臺(tai):此(ci)件固定在(zai)主機(ji)的(de)(de)臺(tai)面(mian)板(ban)上,測量(liang)時做水(shui)平基(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)面(mian),基(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)平臺(tai)的(de)(de)右側(ce)為定位面(mian),左側(ce)為夾緊裝(zhuang)置,左側(ce)的(de)(de)夾緊裝(zhuang)置上有夾緊螺(luo)釘(ding),設備配套的(de)(de)夾具在(zai)測量(liang)時放于基(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)平臺(tai)上。
查看詳細介紹 -
半自動尋峰X射線定向儀時間:2017-11-08型號:ALW-QZXD 800型廠商性質:生產廠家瀏覽量:16995
ALW-QZXD 800型半自動尋峰X射線定向儀為(wei)雙(shuang)工(gong)(gong)作(zuo)臺(tai),左右工(gong)(gong)作(zuo)臺(tai)均能滿足(zu)2~8寸晶(jing)(jing)片的測量,重(zhong)復精(jing)度(du)為(wei)±3“。測定單晶(jing)(jing)材(cai)料的峰位角,使(shi)用(yong)于(yu)工(gong)(gong)業生產的一般要求。
查看詳細介紹 -
全封閉晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2017-11-08型號:ALW-XYDZ 700A 型廠商性質:生產廠家瀏覽量:16982
ALW-XYDZ 700A 型全封閉晶(jing)(jing)棒XY軸X射線(xian)定向(xiang)(xiang)粘料(liao)儀(yi)(yi)為全封閉式雙工作(zuo)臺(tai),左側工作(zuo)臺(tai)在X光下對(2~6)英(ying)寸藍寶(bao)石晶(jing)(jing)棒X軸定向(xiang)(xiang),晶(jing)(jing)棒長(chang)度(du)Z短為20mm,利用(yong)導軌滑動在一(yi)塊料(liao)板上,粘結(jie)多塊晶(jing)(jing)棒;右(you)側工作(zuo)臺(tai)在X光下利用(yong)工具(ju)對(2~6)英(ying)寸藍寶(bao)石晶(jing)(jing)棒Y軸角度(du)定向(xiang)(xiang),然后將晶(jing)(jing)棒和(he)夾具(ju)一(yi)起放到磨床進行(xing)參(can)考面的玻璃面進行(xing)磨平、加工.儀(yi)(yi)器定向(xiang)(xiang)粘結(jie)精度(du)±15“/30“,Z小讀(du)數1“,具(ju)有差值顯(xian)示功(gong)能。
查看詳細介紹 -
晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2017-11-08型號:ALW-XYDZ 700型廠商性質:生產廠家瀏覽量:16933
ALW-XYDZ 700型(xing)晶(jing)(jing)棒XY軸(zhou)X射線定(ding)向(xiang)(xiang)粘料(liao)儀為雙工作臺,左(zuo)側(ce)工作臺在X光下(xia)對(dui)(2~6)英寸(cun)藍寶(bao)石晶(jing)(jing)棒X軸(zhou)定(ding)向(xiang)(xiang),晶(jing)(jing)棒長(chang)度(du)Z短(duan)為20mm,利用導軌滑動在一塊料(liao)板上,粘結多(duo)塊晶(jing)(jing)棒;右側(ce)工作臺在X光下(xia)利用工具對(dui)(2~6)英寸(cun)藍寶(bao)石晶(jing)(jing)棒Y軸(zhou)角度(du)定(ding)向(xiang)(xiang),然后將晶(jing)(jing)棒和夾具一起(qi)放到磨床進(jin)行參考面(mian)的玻(bo)璃面(mian)進(jin)行磨平、加(jia)工。儀器(qi)定(ding)向(xiang)(xiang)粘結精(jing)度(du)±15“/30“,Z小讀數1“
查看詳細介紹 -
YX-300型X射線雙晶高精度定向儀時間:2019-12-17型號:廠商性質:生產廠家瀏覽量:18056
YX-300型(xing)X射線雙晶高精(jing)度定(ding)向儀此(ci)種機型(xing)為雙晶衍射型(xing)高精(jing)度定(ding)向儀,操作簡便,強度較(jiao)低(di),可用于更高精(jing)度水晶晶片、壓電晶體、光學晶體以及各種單(dan)晶晶體材料的檢測。
查看詳細介紹